APRESENTAÇÃO

Metrologia para a Indústria 4.0

 

Finais do século XIX. A partir da iniciativa dos setores dinâmicos da indústria e da academia alemãs, representados por Werner von Siemens e Hermann von Helmholtz, foi criado o Instituto Nacional de Metrologia da Alemanha, o PTB. Compreendia-se que era necessário, para garantir o desenvolvimento industrial do país, ter uma instituição de pesquisa capaz de unir ciência, tecnologia e os interesses industriais.

Era o nascer da segunda revolução industrial, quando novos produtos passam a exigir a definição de padrões e de procedimentos de medição, particularmente no campo da eletricidade. Essa segunda revolução ocorre nos marcos do estabelecimento de um sistema internacional de unidades em 1875 e na compreensão que os processos de comércio internacional dependeriam cada vez mais do acordo em torno das definições no campo da metrologia.

A terceira revolução representa um salto importante na integração cada vez maior entre ciência, tecnologia e inovação. A automatização de processos e a introdução da microeletrônica produz enormes saltos de produtividade. Além disso, a globalização da produção passa a exigir melhores medições e processos. Operam-se mudanças fundamentais nos modelos de negócios e nos mercados de trabalhos. Profissões extinguem-se; outras são criadas, exigindo um dinamismo muito maior dos processos de formação de pessoal.

Vivemos no umbral de nova revolução. A dinâmica de produção de dados e de comunicação máquina a máquina criam um novo cenário, onde os centros de decisão poderão estar em sistemas cyber-físicos, onde as unidades produtoras serão capazes de construir autonomamente novos processos e melhorias em produtos. O uso massivo de tecnologias de informação e comunicação é elemento chave dessa nova revolução. Qual a base metrológica necessária para monitorar fenômenos físicos remotos, desenvolver novos sensores, técnicas de aquisição, novos sistemas de aquisição de dados? Quais são as bases metrológicas para a nova revolução industrial?

O Metrologia 2019 se propõem a ser um ambiente científico e técnico que para criar redes de inovação e colaboração, baseadas em pesquisas e trabalhos nas fronteiras da metrologia e da qualidade. Será mais uma voz a se unir àquelas que defendem o papel central da ciência e tecnologia como pilares do desenvolvimento e bem-estar das pessoas.

O Metrologia 2019, como em anos anteriores, será composto por congressos simultâneos nas áreas de Mecânica, Elétrica, Radiações Ionizantes, Química e Óptica, além das demais disciplinas de Tecnologia Industrial Básica reunidas no Congresso Brasileiro de Metrologia.

Repetindo a iniciativa realizada nas últimas edições do evento, os melhores trabalhos, selecionados pelo Comitê Técnico Científico, serão publicados em uma edição especial do Journal of Physics Conference Series, editado pelo IOP Publishing.

Como em eventos anteriores, realizaremos a Expo Metrologia 2019, feira e exposição de equipamentos de medição.

Também teremos no Metrologia 2019a oferta de cursos presenciais em diversas áreas de interesse da Metrologia e Avaliação da Conformidade, promovida pela Escola Nacional de Tecnologia Industrial Básica – ENTIB.

 

 

METROLOGIA 2019
metrologia2019@metrologia.org.br

Desenvolvido por LT Sistemas Web © Copyright 2018. Todos os direitos reservados.