PROGRAMAÇÃO

 

QUADRO GERAL DE ATIVIDADES

 

 

PROGRAMA EVENTOS PARALELOS

VI Congresso Brasileiro de Metrologia das Radiações Ionizantes (CBMRI) - Confira o programa do aqui

 

PALESTRANTES CONFIRMADOS

  • Barbara Goldstein –  National Institute of Standards and Technology (NIST)                                                                      Ms. Barbara Goldstein serves as Associate Director of the Physical Measurement Laboratory – the largest operational unit at NIST consisting of approximately 1300 staff and associates, two joint institutes, and is responsible for realizing and disseminating rigorous measurements to support commercial, defense and research enterprises. Ms. Goldstein manages the “NIST on a Chip” program which is establishing a new paradigm for precision measurement dissemination through a suite of deployable, fit-for-purpose, quantum-based standards to be embedded in products or installed at user sites. She has over thirty years of experience in the federal government and private industry, during which she led the development of e-commerce standards that have been used in hundreds of thousands of business transactions; led roadmap efforts for the Internet of Things and factory automation; and developed and led the NIST Technologies for the Integration of Manufacturing Applications program which competitively awarded a cost shared research portfolio of approximately $150M. Prior to joining NIST in 1992, she implemented information management systems at McDonnell Douglas (now Boeing), and managed computing facilities at the Israeli Land Authority in Jerusalem. 
  • Jonny Doin – GridVortex
  • José Mauro Granjeiro – Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia (INMETRO)                        Palestra: Bioengenharia e Bioprinting: metrologia para ampliar a inovação                                                                        É graduado em Odontologia pela Universidade de São Paulo e mestre e doutor em Ciências pela Universidade Estadual de Campinas. No INMETRO (Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia), é Pesquisador Sênior em Metrologia e Qualidade. Na Faculdade de Odontologia da Universidade Federal Fluminense é Professor Adjunto. Tem experiência na área de Bioengenharia, toxicologia de bionanomateriais.
  • Thomas Wiedenhöfer – The National Metrology Institute of Germany (PTB)                                                                        Palestra: Exchange of metrological data for the use in machine to machine communication in Industry 4.0
  • Vanderlei Bagnato – Universidade de São Paulo (USP)                                                                                                         Palestra: Desafios  atuais da saúde e soluções com uso da óptica                                                                                       Professor de fisica do IFSC - Universidade de são Paulo, atuando nas áreas de fisica atômica, óptica e aplicações da óptica na saude. Orientou mais de 110 alunos de Pós-graduação e publicou mais de 500 artigos cientificos. 
  • Wolfram Bremser - BAM Federal Institute for Materials Research and Testing

 

 

METROLOGIA 2019
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