PROGRAMAÇÃO

 

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QUADRO GERAL DE ATIVIDADES

 

 

PALESTRANTES CONFIRMADOS

 

  •  Armando Albertazzi                                                                                                                                                         Palestra: Interferometria em ambientes hostis - do sonho à realidade.                                                                                 Professor titular do Departamento de Engenharia Mecânica da Universidade Federal de Santa Catarina onde ingressou em 1987. Desde então atua na área de metrologia óptica, com ênfase no desenvolvimento e aplicação de técnicas e equipamentos ópticos para aplicações industriais. Até o presente orientou 24 teses de doutorado, 55 dissertações de mestrado, é autor ou coautor de 51 artigos publicados em periódicos, 221 em anais de congressos, dois livros dentre os quais Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial (Ed. Manole 2008/2018). Em 2008 foi nomeado Fellow da International Society for Optics and Photonics (SPIE).
                                                                                                                                               
  • Barbara Goldstein –  National Institute of Standards and Technology (NIST)                                                                      Palesta: Fueling Industry 4.0 through a Revolution in Metrology                                                                                        Ms. Barbara Goldstein serves as Associate Director of the Physical Measurement Laboratory – the largest operational unit at NIST consisting of approximately 1300 staff and associates, two joint institutes, and is responsible for realizing and disseminating rigorous measurements to support commercial, defense and research enterprises. Ms. Goldstein manages the “NIST on a Chip” program which is establishing a new paradigm for precision measurement dissemination through a suite of deployable, fit-for-purpose, quantum-based standards to be embedded in products or installed at user sites. She has over thirty years of experience in the federal government and private industry, during which she led the development of e-commerce standards that have been used in hundreds of thousands of business transactions; led roadmap efforts for the Internet of Things and factory automation; and developed and led the NIST Technologies for the Integration of Manufacturing Applications program which competitively awarded a cost shared research portfolio of approximately $150M. Prior to joining NIST in 1992, she implemented information management systems at McDonnell Douglas (now Boeing), and managed computing facilities at the Israeli Land Authority in Jerusalem.                                                                                             
  • Jonny Doin – GridVortex                                                                                                                                                        Empresário, Engenheiro de Sistemas Embarcados e Empreendedor de Tecnologias de Smart City. Fundador da GridVortex, que desde 2012 desenvolve hardware e firmware para tornar as Smart Cities do futuro lugares bons para se viver. É também um Evangelista da Segurança Cibernética e Inteligência Distribuída na Smart City, como garantidoras da infraestrutura inteligente. Isto é "CyberSecurity by Design" e "Safety by Design", conceitos que vagarosamente estão sendo discutidos na esfera Pública. A GridVortex desenvolve chips de microeletrônica para tornar viáveis essas aspirações, de Segurança para os Cidadãos Cibernéticos das Smart Cities do futuro. Jonny interessa-se pela problemática do Direito Cibernético, uso da Inteligência Artificial como parte da solução, e também "Compliance by Design”, além do desenvolvimento de novas tecnologias transformadoras. Desde 2010 envolve-se na discussão de Metrologia e aprovação de Firmware em sistemas de medição com o INMETRO, e representou a Indústria de Fabricantes de Medidores como Diretor de Software Metrológico no SIBAPEM/FIESP.
  • Cesar Augusto Botura - Instituto de Fomento e Coordenação Industrial - IFI                                                            Palestra: SISMETRA - Sistema de Metrologia Aeroespacial                                                                                                  Desde 2002 É Engenheiro no DCTA / IFI / CMA - (Departamento de Ciência e Tecnologia Aeroespacial / Instituto de Fomento e Coordenação Industrial / Divisão de Confiabilidade Metrológica Aeroespacial), onde atua como responsável pelos Laboratórios de Metrologia e atualmente na Subdivisão de Capacitação Laboratorial, responsável pela coordenação de capacitação, auditorias e programas interlaboratoriais
  • José Mauro Granjeiro – Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia (INMETRO)                        Palestra: Bioengenharia e Bioprinting: metrologia para ampliar a inovação                                                                        É graduado em Odontologia pela Universidade de São Paulo e mestre e doutor em Ciências pela Universidade Estadual de Campinas. No INMETRO (Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia), é Pesquisador Sênior em Metrologia e Qualidade. Na Faculdade de Odontologia da Universidade Federal Fluminense é Professor Adjunto. Tem experiência na área de Bioengenharia, toxicologia de bionanomateriais.,
  • Nathália Ferro de Oliveira - L'oréal                                                                                                     Palestra: Caracterização de fibras capilares: A ciência da medição por trás da indústria da beleza                                    Graduada em Engenharia dos Materiais pela UFRJ e mestre em Metrologia pela PUC-Rio, possui experiência em caracterização de fibras capilares. Atualmente, atua como coordenadora de Avaliação Instrumental e Clínica no centro de Pesquisa da L'oréal Brasil. 
  • Thomas Wiedenhöfer – The National Metrology Institute of Germany (PTB)                                                                        Palestra: Exchange of metrological data for the use in machine to machine communication in Industry 4.0.                     National and international project work and coordination with long experience gained from work in industry and science. Expert in dimensional metrology, weighing, quality management and measurement uncertainty calculation and evaluation.
  • Vanderlei Bagnato – Universidade de São Paulo (USP)                                                                                                         Palestra: Desafios  atuais da saúde e soluções com uso da óptica                                                                                       Professor de fisica do IFSC - Universidade de são Paulo, atuando nas áreas de fisica atômica, óptica e aplicações da óptica na saude. Orientou mais de 110 alunos de Pós-graduação e publicou mais de 500 artigos cientificos.

 

 

METROLOGIA 2019
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